NI, 세미콘코리아에서 반도체 테스트 솔루션 선보여
NI, 세미콘코리아에서 반도체 테스트 솔루션 선보여
  • 김주연 기자
  • 승인 2018.01.29 16:21
  • 댓글 0
이 기사를 공유합니다

내쇼날인스트루먼트(NI)는 31일부터 2월 2일까지 서울 삼성동 코엑스에서 열리는 ‘세미콘코리아(SEMICON KOREA) 2018’에서 최신 반도체 테스트 솔루션을 소개한다고 29일 밝혔다.


먼저 PXI(PCI eXtension for Instrumentation)에 소스측정유닛(SMU) 모듈을 결합한 ‘전력관리칩(PMIC) 테스트 솔루션’을 선보인다. 모바일·웨어러블·사물인터넷(IoT) 기기 등 저전력 기기에 적합한 맞춤형 자동화 테스트를 제공한다.


 

photo

▲NI의 주력 제품인 반도체 테스트 시스템(STS)./NI


주력 제품인 ‘NI 반도체 테스트 시스템(STS)’도 소개한다. 소프트웨어(SW)·하드웨어(HW) 통합 플랫폼으로, 반도체 양산 라인의 테스트 공정에 활용된다. PXI에 모듈형 계측기를 꽂아 원하는 조건·성능에 따라 칩을 검증할 수 있어 아날로그, 무선주파(RF), 디지털 등 다양한 반도체를 통합해 사용할 때 적합하다. 


이와 함께 PXI에 ‘VST(Vector Signal Transceiver’를 결합한 4.5G·5G 테스트 솔루션도 전시한다. 이 제품은 최대 1㎓ 대역폭에서 멀티 캐리어어그리게이션(CA), 다중입출력(MIMO) 등을 적용한 무선주파프론트엔드(RFFR) 모듈 등 RF 부품과 연결, 성능을 검증할 수 있다. 


‘반도체 공정 장비 상태 모니터링 솔루션’과 개발·양산 단계에서 모두 활용할 수 있는 ‘근거리무선통신(NFC) 테스트 솔루션’ 등도 시연할 예정이다.


권순목 한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 대리는 “이번 행사를 통해 고객들이 NI의 최신 반도체 테스트 장비들을 직접 체험하고, 이를 폭넓게 활용하길 바란다”고 말했다.


 


댓글삭제
삭제한 댓글은 다시 복구할 수 없습니다.
그래도 삭제하시겠습니까?
댓글 0
댓글쓰기
계정을 선택하시면 로그인·계정인증을 통해
댓글을 남기실 수 있습니다.