지멘스, IC 설계 검증 테스트 용이화 설계 솔루션 ‘테센트 인시스템 테스트’ 발표

지멘스 디지털 인더스트리 소프트웨어, 지멘스 EDA 사업부(http://www.siemens.com/eda)는 차세대 집적 회로(IC)의 설계 단계에서 칩의 공정상 결함이 있는지 체크하는 테스트 용이화 설계(DFT, Design-for-Test) 솔루션인 '테센트 인시스템 테스트(Tessent™ In-System Test)' 소프트웨어를 출시했다고 12일 밝혔다.

이 솔루션은 지멘스의 테센트 스트리밍 스캔 네트워크(Tessent™ Streaming Scan Network) 소프트웨어와 함께 작동하도록 설계된 업계 첫 인시스템 테스트 컨트롤러다. 이같은 호환성을 통해 고객은 제품 수명주기 동안 시스템 내에서 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있으며, IC와 이를 구동하는 애플리케이션의 안정성과 보안, 완전한 기능을 유지할 수 있다.

테센트 인시스템 테스트는 지멘스의 테센트 테스트컴프레스(TestKompress™) 소프트웨어로 생성된 결정론적 테스트 패턴의 원활한 통합을 가능하게 한다. 이를 통해 시스템 내 애플리케이션에 기존 IJTAG 및 SSN 기반 패턴을 재사용하는 동시에 전반적인 칩 구조 설계를 개선하고 테스트 시간을 단축할 수 있다.

테센트 인시스템 테스트 소프트웨어를 사용하면 테센트 테스트컴프레스와 SSN을 사용해 생성된 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 업계 표준 APB 또는 AXI 버스 인터페이스로 인시스템 테스트 컨트롤러에 직접 적용할 수 있다. 결정론적 테스트 패턴은 사전 정의된 테스트 기간 내에서 고품질을 제공할 뿐만 아니라, 디바이스의 수명주기에 따라 테스트 내용을 변경할 수 있는 기능을 제공한다. 또 결정론적 패턴이 내장된 인시스템 테스트는 기존 테스트 인프라의 재사용을 지원하고 있다. 이러한 기능은 자동차, 항공우주, 의료 기기 등 안전이 중요한 애플리케이션에 중점을 둔 산업에 특히 중요하다.

테센트 인시스템 테스트는 현재 지멘스 디지털 인더스트리 소프트웨어에서 제공되고 있다. 자세한 내용은 https://eda.sw.siemens.com/en-US/ic/tessent/test/in-system-test에서 확인할 수 있다.