차량용 반도체 업계의 고민 중 하나는 갈수록 엄격해지고 있는 고객사의 안전·보안 기준을 충족하는 것이다. 반도체 설계자동화(EDA) 업체 멘토, 지멘스 비즈니스가 이같은 어려움을 덜어줄 수 있는 솔루션을 내놨다.

멘토, 지멘스 비즈니스(지사장 김준환)는 차량용 집적회로(IC)의 결함을 정확히 측정·진단할 수 있도록 테스트 툴 ‘테센트 커넥트(Tessent Connect)’를 출시하고 테스트 생태계 '테센트 세이프티(Tessent Safety)'를 조성한다고 26일 밝혔다.

테스트 비용 줄이려면, 테센트 커넥트

테센트 커넥트는 IC 설계 팀이 기존 테스트용설계(DFT) 방식보다 적은 자원을 들이면서도 빠르게 품질 목표를 달성할 수 있도록 돕는 계층적 DTF 방식 테스트 도구다.

첨단 IC를 설계할 때는 결함을 검출할 수 있는 영역을 늘리기 위해 주로 임베디드 압축, 내장 자체 테스트(BIST) 및 IEEE 1687 IJTAG 네트워크와 같은 전용 온칩 인프라를 활용한다.

이를 DFT 방식이라고 하는데, IC에 내장되는 IP가 많아지면서 이를 관리하기 쉽도록 잘게 쪼게 각각 테스트하는 계층적 DFT 방식을 채택하는 경우가 늘어나고 있다.

문제는 기존 DFT 방식에서 계층적 DFT 방식으로 갈 때 기존의 흐름과 자동화를 뜯어고쳐야 해 시간·비용이 많이 든다는 점이다.

테센트 커넥트는 처음부터 계층적 DFT를 지원하도록 설계됐다. 각 테스트 단계별로 결함을 어떻게 처리해야한다고 지침을 주기보다는 이 결함이 전체 시스템에 어떤 결과를 유도하는지 알려주는 추상적 접근 방법을 활용해 다른 팀 혹은 협력사와 원활하게 협업할 수 있다.

이와 함께 IC 구성요소의 플러그 앤 플레이 방식 재사용, 턴어라운드 시간의 대폭 단축, 그리고 수많은 시간 소모적인 설정, 연결성 및 패턴 생성 작업의 자동화 등의 이점도 얻을 수 있다.

실제 핀펫(FinFET) 전용 반도체(ASIC) 서비스 및 설계자산(IP) 업체 이실리콘(eSilicon)은 ASIC 설계에 이를 도입, 적은 비용으로 시스템 수준의 정교한 테스트 및 디버깅을 정교하게 해낼 수 있었다.

멘토는 이와 함께  멘토의 애플리케이션 및 컨설팅 서비스 엔지니어들의 상세한 흐름 평가 서비스를 제공하는 ‘테센트 커넥트 퀵스타트(Tessent Connect Quickstart)’도 함께 발표했다.

조셉 레이닉(Joseph Reynick) 이실리콘 DFT 서비스 부문 디렉터는 “테센트 커넥트로 공격적인 생산 일정에 맞추고 머신 러닝을 위한 neuASIC 7nm 플랫폼 기반의 제품과 같이 업계를 선도하는 IC를 만들고 있다”며 “고객사의 요구가 고품질의 IC 제조 테스트에서 효과적인 시스템 내 테스트와 기능 디버깅 기능으로까지 확장되고 있다"고 말했다. 

기준선 올라가도 문제 없다, 테스트 생태계 '테센트 세이프티'

테센트 세이프티는 자동차 반도체 안전 표준인 ISO 26262 적격성을 유지해 주는 동급 최상의 자동차 IC 테스트 솔루션을 제공하기 위해 마련됐다. 멘토, 지멘스비즈니스뿐만 아니라 업계의 파트너들도 다수 참여, 갈수록 높아지는 자동차 업계의 기능 안전 요건에 부응할 수 있게 한다.

기존 테스트 프로그램은 독립적인, 반도체 및 단일 소스 모델 기반 경쟁 프로그램들로 전 영역을 커버하지 못한다. 멘토는 IC 테스트 기능 안전성 보장에 대한 개방형 에코시스템 접근방법을 통해 고객사가 다른 솔루션과 자사의 솔루션을 결합해 쓸 수 있게 했다.

멘토가 지원하는 도구는 ▲기존 로직 내장자체테스트(BIST) 기술보다 시스템 내 테스트 시간을 10분의1로 줄여주는 'Tessent LBIST-OST' ▲설계 규칙 검사(DRC), 테스트 계획, 통합 및 검증 기능을 RTL 또는 게이트 수준에서 제공하는 'Tessent MemoryBIST' ▲전장 시스템에 내장된 반도체를 운전 중에도 테스트·진단할 수 있는 'Tessent MissionMode' 등이 포함된다.

멘토는 수많은 주요 파트너들과의 파트너십을 통해 테센트 세이프티를 빠르게 확장할 계획이다.

브래디 벤웨어(Brady Benware) 멘토, 지멘스 비즈니스의 테센트(Tessent) 제품군 부문 부사장은 ““자동차 IC 디자이너들은 IC 테스트 성능을 가속화하기 위해 DFT 기술과 비 DFT 기술을 포함한 모든 온칩 안전 메커니즘을 긴밀하게 결합해야 할 필요성이 점점 더 커지고 있다"며 "이러한 접근방법은 멘토의 새로운 Tessent Safety 에코시스템에 있어서 기본적인 요소”라고 말했다.